壓痕粒子AOI自動光學檢測系統

產品簡介：

      COG、FOG等后工序中導入AOI檢查是必要的，除了壓痕、偏位檢查項目之外，劃傷、異物外觀檢查也成為高階需求。

      智能手機屏輕薄并且要求AOI檢查Cycle-time短，因Dimple*形成異物而造成過檢要克服；車載屏不僅在接合部 (Land) 而目在相機視野內所有劃傷、異物也能檢查出來。高階AOI檢查內容要求系統必須采用圖像機器深度學習等方法。

*Dimple: 附著了臟污等造成玻璃在減薄加工時出現凹坑，AOI檢查成像變成模糊不清，壓痕看不見而誤判成壓痕NG, 僅是壓痕不能看見而實際壓痕仍存在，在有Dimple區域情形一般不作壓痕檢查，而判定為OK情形。